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太陽能硅片外觀檢測涉及的缺陷有裂片、崩邊、缺角、臟污等數十種,檢測需求多,客戶對機器視覺檢測要求高,重復定位精度需≤0.1mm,檢測幅寬也需要根據具體產品進行定制,需尋求更有效的方法,機器代人的同時,滿足不同硅片尺寸的檢測需求。
重復定位精度≤0.1mm
檢測速度提升:3pcs/s